[PT-EN] Apresentação da terceira contribuição dos Special Reports sobre LPITs na Bienal do Cigre 2024 – Paris/França
Testar LPITs (Low Power Instrument Transformers) tanto nas etapas de implementação quanto de manutenção apresenta vários desafios, principalmente devido à coexistência de circuitos de alta potência e de comunicação no mesmo dispositivo.
Durante a fase de implementação, são necessários testes aprofundados para garantir o desempenho ideal tanto no nível primário, que inclui a avaliação dos sensores de corrente e tensão, quanto no nível secundário, que envolve a verificação do protocolo Sampled Values e a sincronização de tempo. Por fim, na etapa de manutenção, uma abordagem holística é necessária para ambos os níveis, especialmente quando o LPIT está energizado.
Nesse contexto, malas de testes especializadas que possam realizar testes tanto de nível primário quanto de secundário, no mesmo dispositivo, são muito úteis.”
[EN] Presentation of the third contribution of the Special Reports on LPITs at the 2024 Cigre Biennale – Paris/France
Testing LPITs (Low Power Instrument Transformers) during both the implementation and maintenance stages presents several challenges. Mainly due to the coexistence of high-power and communication circuits with the same device.
During the implementation stage, deep tests are required to ensure optimal performance at both the primary level, which includes evaluating current and voltage sensors, and the secondary level, which involves verifying the Sample Values protocol and time synchronization. Finally, during the maintenance stage, a holistic approach is necessary for both primary and secondary levels, especially when the LPIT is energized.
In this context, specialized test sets that can perform tests in both primary and secondary levels on the same device are very useful.
